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phoenix v|tome|x m
—— 多功能的X射线微聚焦CT系统，用于三维计量和分析，高达300kV/500W
在phoenix v|tome|x m中，独特的300千伏微焦点X射线管是优先安装于紧凑的CT系统，用于工业过程控制和科研应用。 该系统可以进行向下1米内的详细探测，提供300千伏放大倍率，并以其高动态DXR数字探测器阵列和点击与测量| CT（click & measure | CT）自动化功能成为工业检测和科研的有效的三维工具。 该系统具备双|管配置，可以为各种样本范围提供详细的三维信息： 从低吸收样品的高分辨率 nanoCT®到涡轮叶片检验等的高功率CT应用。
于Waygate Technologies创新的计算机断层扫描（CT）解决方案，以及Waygate ...
2023-06-28
2023年6月15日至16日，英华检测邀请了各行业客户参与由Waygate Technologies...
2023-06-30
phoenix v|tome|x m —— 多功能的X射线微聚焦CT系统，用于三维计量和分析，高达300kV/500W 在phoenix v|tome|x m中，贝克休斯公司独特的300千伏微焦点X射线管是安装于紧凑的CT系统，用于工业过程控制和科研应用。 该系统提供300千伏下业内放大倍率，并以其高动态DXR数字探测器阵列和点击与测量| CT（click & measure | CT）自动化功能成为工业检测和科研的有效的三维工具。 该系统具备双|管配置，可以为各种样本范围提供详细的三维信息： 从低吸收样品的高分辨率 nanoCT®到涡轮叶片检验等的高功率CT应用。
phoenixnanotomm ——适用于材料科学、传感/电气工程、测量技术、地质/生物等领域 phoenixnanotomm是一个nanoCT系统用于科学与工业计算机断层扫描(microCT与nanoCT)与众多样品范围的三维测量。凭借其专门设计的180千伏/15瓦的带有内部冷却和温度稳定的数字检测器的高功率纳米焦点X射线管，系统的实现了样品和应用范围的独特的空间和对比分辨率-从小的生物和地质标本，到中等大小的工业组件如注射口或注塑成型的塑料零件-也具有金属嵌体。CT扫描的全自动执行、再现和分析过程确保了其易用性以及快速和可靠的CT结果。
phoenix v|tome|x c —— 一款紧凑型450 kV CT系统 专为无损检测和质量检测实验室使用而设计，应用于铸造与航空航天等领域。具有维护率低和以生产为导向的设计特点，如简便的装载工具、扫描条码等，以及新的一键式按钮进行自动CT功能，使系统成为质量检测的一个非常高速有效的工具。 该系统提供检测的样品尺寸可以达到500×1000毫米，对于需要大功率穿透的高密度样品可以配备450kV射线管，可配有高性能线阵列探测器，以减少扇束CT的散射辐射而造成的图像伪影。而且，为满足大批量检测可配数字平板探测器与锥束CT相适应，或是配双组合探测器组合使用。
phoenix v|tome|x s —— 多功能的高分辨率系统，用于二维X射线检测和三维计算机断层扫描(micro ct 与nano ct))以及三维测量 为达到高度的灵活性，phoenix v|tome|x s可从二者中选择装备：180千伏/ 15 W高功率nanofocus X射线管和240kV/ 320w的微焦点管. 由于这种独特的组合，该系统是一个非常有效且可靠的工具，基本应用于对低吸收材料的极高分辨率扫描以及对高吸收物体的三维分析。
v|tome|x L450 —— phoenix v|tome|x L450是多功能高分辨率微焦点系统，用于二维和三维计算机断层扫描和二维无损X射线检测 此设备配有**个单极300千伏/ 500 瓦的微聚焦源，确保了300千伏的世界上良好的放大倍率。其基于花岗岩的操作可处理多达50千克，长600 毫米/ 直径500毫米的大样本且具有极高的精度。该系统是一个用于无效和缺陷检测和复合材料、铸件和精密零件如注射喷口或涡轮叶片的三维测量（如首件检测）的极好的解决方案。 可选的高功率纳米焦距X射线管可使 phoenix v|tome|x L450适应任何种类的工业和科学高分辨率CT应用。
phoenix microme|x —— 高分辨率的微焦点X射线检测系统，主要设计用于焊点和电子元件的实时X射线检测 它将高分辨率的二维X射线技术和计算机断层扫描结合在一个系统中，同时具有创新的功能。多功能、易于使用的phoenix microme|x 提供了出色的图像质量，可以用于故障分析实验室以及生产车间。它配备了phoenix|X射线专有的图像处理软件，用于PCB装配的自动检测，提供更高的缺陷覆盖率，同时提高了生产效率。
phoenix x|aminer ——— 一款操作简便的入门级X射线检测系统, 具有高性能的微焦点无损检测设备, 专为半导体封装, 电子元器件和电子组装等领域高分辨率检测要求而设计. 现配备了新型CMOS平板探测器, 比图像增强器具有更好的信噪比, 清晰度和实时成像能力, 并可选CT功能. 系统提供了功能强大和易用性好的phoenix x|act base二维软件和 datos|x base CT软件, 并允许手动检测和编程自动检测
seifert x-cube 高度多功能的160kV放射镜检测系统，用于现场测试和各种小试样的小系列检测，包括轻金属铸件、钢构件、塑料、陶瓷和特种合金。 该系统的设计在应用中具有很大的灵活性，如生产、进货检测、故障分析或研究和开发 。 凭借其集成的图像增强系统-Seifert VISTAPLUS-， 标准版的可编程系统可提供快速和好品质的检测。 它可以处理重型及大型的测试样品，且可以快速对其进行装卸。 易于对经验证的图像增强系统进行操作与编程，有助于用户准确保存并做出正确的检测决定。
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